Кулак, Э. Н.Каминская, М. А.Константинова, Ю. К.2016-09-072016-09-072009Кулак, Э. Н. Метод анализа тестопригодности цифровых устройств для псевдослучайного тестирования в системах встроенного самотестирования / Э. Н. Кулак, М. А. Каминская, Ю. К. Константинова // АСУ и приборы автоматики : всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Х. : Изд-во ХНУРЭ, 2009. – Вып. 147. – С. 9–15.http://openarchive.nure.ua/handle/document/2261Предлагается метод анализа тестопригодности для сложных цифровых комбинационных схем. Приводится алгоритм модификации устройства и генерации взвешенного теста для улучшения показателей тестопригодности. Присутствуют результаты моделирования схемы в системе SIGESTEST. Предложенный метод сравнивается с двумя аналогичными методами анализа тестопригодности.ruцифровые комбинационные схемытестопригодностьсамотестированиеArticle