Хаханов, В. И.Шкиль, А. С.Ханько, В. В.2018-12-202018-12-201999Хаханов В. И. Дедуктивный метод кубического моделирования неисправностей цифровых устройств / Хаханов В. И., Шкиль А. С., Ханько В. В. // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХГТУРЭ, 1999. – Вып. 1. – С. 77–84.http://openarchive.nure.ua/handle/document/7596Предлагается метод дедуктивного моделирования константных логических неисправностей для цифровых устройств (ЦУ), где функциональные элементы представлены в виде кубических покрытий. Впервые получено аналитическое выражение формального анализа покрытия на тест-векторе для транспортирования входных списков неисправностей на выход примитива. Метод инвариантен по отношению к формам представления цифровых схем, задающим способы описания вентилей, функциональных элементов, алгоритмов. Известные дедуктивные формулы анализа вентильных схем являются частным случаем полученного выражения.ruметод дедуктивного моделированиятест-векторвходной список неисправностейArticle