Хаханов, В. И.Монжаренко, И. В.Бедратый, Р. А.2018-11-232018-11-231997Хаханов В. И. Проектирование оптимизированных алгоритмов диагностирования устройств вычислительной техники / Хаханов В. И., Монжаренко И. В., Бедратый Р. А. // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 1997. – Вып. 1. – С. 88-91.http://openarchive.nure.ua/handle/document/7367Реализация тестовых методов диагностирования средств цифровой вычислительной техники [1,2] предполагает наличие сервисного оборудования, включающего интерфейс связи с объектом диагностирования, средства подачи тестов и снятия реакции изделия, логические стимуляторы и анализаторы для поиска дефектов внутри цифрового устройства (ЦУ). Функциональное диагностирование не требует дорогостоящего сервисного диагностического оборудования, но его разрешающая способность – глубина поиска дефектов – значительно ниже, чем у тестовых методов.ruдиагностирование средств цифровой вычислительной техникисредства подачи тестовснятие реакции изделиялогические стимуляторыанализаторArticle