Таран, О. С.2023-05-122023-05-122022Таран О. С. Дослідження характеристик вихідних сигналів оптико-електронних систем з урахуванням процесів дефектоутворення в напівпровідниках : пояснювальна записка до атестаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 153 – Мікро- та наносистемна техніка / О. С. Таран ; М-во освіти і науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки – Харків, 2022. - с.https://openarchive.nure.ua/handle/document/22886Об’єкт дослідження: оптико-електронні системи. Мета роботи: дослідження параметрів та характеристик ОЕС. Метод дослідження – теоретичний аналіз. Актуальність роботи визначається тим, що нині у техніці відбувається інтенсивне використання електромагнітних коливань оптичного діапазону довжин хвиль. Розробка оптико-електронних приладів (ОЕП) є одним з перспективних напрямків сучасного оптичного приладобудування. Вони дають можливість отримувати, передавати та обробляти інформацію у всіх галузях оптичного спектру в результаті перетворення оптичних сигналів на електричні, а також дозволяють автоматизувати управління різними об'єктами та технічними процесами. Швидкому розвитку ОЕП сприяє промислове освоєння лазерів, що дозволяють створювати лазерні ОЕП із якісно відмінними характеристиками. Застосування голографічних методів обробки даних є основою голографічних ОЕП, здійснюють багатоканальне перетворення великих масивів інформації.ukоптико-електронна системахарактеристика вихідних сигналівдефектоутворення в напівпровідникахпромислове освоєння лазерівOther