Слипченко, Н. И.Письменецкий, В. А.Фролов, A. B.2025-01-132025-01-132009Слипченко Н. И. Прогнозные оценки надежности монокристаллических кремниевых фотопреобразователей / Н. И. Слипченко, В. А. Письменецкий, A. B. Фролов // Электронная компонентная база. Состояние и перспективы развития : материалы 2-ой Междунар. научн. конф., 30 сентября-3 октября 2009 г. – Харьков-Кацивели : ХНУРЭ, 2009 г. – С. 194–197.https://openarchive.nure.ua/handle/document/29581The regressive models of temperature degradation of optimum tension and temporal degradation of current of loading of silicic monocrystalline photoconverter are offered providing the calculation of conditional intensity of refusals of these devices depending on the levels of degradation of the indicated parameters and energy of activating.кремниевый фотопреобразовательмонокристаллический фотопреобразователейПрогнозные оценки надежности монокристаллических кремниевых фотопреобразователей