Search


Current filters:

Start a new search
Add filters:

Use filters to refine the search results.


Results 1-6 of 6 (Search time: 0.005 seconds).
  • previous
  • 1
  • next
Item hits:
Issue DateTitleAuthor(s)
2010Возможности проведения микроволновой сканирующей дефектометрии полупроводниковых материалов и структурМельник, С. И.; Гордиенко, Ю. Е.; Слипченко, Н. И.
2010Информационный метод моделирования непрерывных нечетких измерений квантового состояния в эксперименте по наблюдению раби-осцилляцийМельник, С. И.; Слипченко, Н. И.; Мельник, С. С.
2010Повышение точности процесса автоматизации контроля параметров электронных компонентСлипченко, Н. И.; Федотов, П. Д.; Федотов, Д. А.
2010Алгоритм восстановления распределения по глубине электрофизических свойств полупроводников в микроволновой микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Мельник, С. И.; Слипченко, Н. И.
2010Модель токопереноса в гетероструктуре аморфный - монокристаллический кремнийБыков, М. А.; Слипченко, Н. И.; Зуев, С. А.
2010Сравнительный анализ основных параметров кремниевых монокристалических и пленочных аморфных фотопреобразователейСлипченко, Н. И.; Письменецкий, В. А.; Фролов, А. В.; Герасименко, Н. В.