Search


Current filters:
Start a new search
Add filters:

Use filters to refine the search results.


Results 1-10 of 28 (Search time: 0.005 seconds).
Item hits:
Issue DateTitleAuthor(s)
2010Возможности проведения микроволновой сканирующей дефектометрии полупроводниковых материалов и структурМельник, С. И.; Гордиенко, Ю. Е.; Слипченко, Н. И.
2010Информационный метод моделирования непрерывных нечетких измерений квантового состояния в эксперименте по наблюдению раби-осцилляцийМельник, С. И.; Слипченко, Н. И.; Мельник, С. С.
2010Повышение точности процесса автоматизации контроля параметров электронных компонентСлипченко, Н. И.; Федотов, П. Д.; Федотов, Д. А.
2010Алгоритм восстановления распределения по глубине электрофизических свойств полупроводников в микроволновой микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Мельник, С. И.; Слипченко, Н. И.
2014Информационный метод повышения разрешающей способности в СКВИД-микроскопииМельник, С. И.; Слипченко, Н. И.
2014Закономерности СВЧ модификации полупроводниковых тонкопленочных структурГордиенко, Ю. Е.; Слипченко, Н. И.; Полетаев, Д. А.; Проказа, А. М.; Пятайкина, М. И.
2012Модель омического контакта ПТШ с использованием метода крупных частицАсанов, Э. Э.; Килесса, Г. В.; Зуев, С. А.; Слипченко, Н. И.
2014Оптимизация режима питания СВЧ микромодификатора в микротехнологияхГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Слипченко, Н. И.; Щербак, Е. Л.
2012Разрешающая способность резонаторных зондов сканирующей микроволновой микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Гуд, Ю. И.; Ларкин, С. Ю.; Слипченко, Н. И.
2011Алгоритм трехмерной реконструкции электрофизических свойств в микроволновой сканирующей микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Мельник, С. И.; Слипченко, Н. И.