Search


Current filters:
Start a new search
Add filters:

Use filters to refine the search results.


Results 1-7 of 7 (Search time: 0.003 seconds).
  • previous
  • 1
  • next
Item hits:
Issue DateTitleAuthor(s)
2010Возможности проведения микроволновой сканирующей дефектометрии полупроводниковых материалов и структурМельник, С. И.; Гордиенко, Ю. Е.; Слипченко, Н. И.
2010Информационный метод моделирования непрерывных нечетких измерений квантового состояния в эксперименте по наблюдению раби-осцилляцийМельник, С. И.; Слипченко, Н. И.; Мельник, С. С.
2010Алгоритм восстановления распределения по глубине электрофизических свойств полупроводников в микроволновой микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Мельник, С. И.; Слипченко, Н. И.
2014Информационный метод повышения разрешающей способности в СКВИД-микроскопииМельник, С. И.; Слипченко, Н. И.
2011Алгоритм трехмерной реконструкции электрофизических свойств в микроволновой сканирующей микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Мельник, С. И.; Слипченко, Н. И.
2012Локальная СВЧ модификация материалов и структур микро- и наноэлектроникиГордиенко, Ю. Е.; Мельник, С. И.; Слипченко, Н. И.
2012Влияние информационной составляющей нечеткого непрерывного измерения на сигнальные характеристики курбит-детектора с параметрическим преобразованием энергииМельник, С. И.; Слипченко, Н. И.; Шнырков, В. И.