Search


Current filters:
Start a new search
Add filters:

Use filters to refine the search results.


Results 1-8 of 8 (Search time: 0.003 seconds).
  • previous
  • 1
  • next
Item hits:
Issue DateTitleAuthor(s)
2010Алгоритм восстановления распределения по глубине электрофизических свойств полупроводников в микроволновой микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Мельник, С. И.; Слипченко, Н. И.
2012Аналитическое приближение измерительных зависимостей резонаторных зондов для сканирующей микроволновой микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Проказа, А. М.
2012Влияние зазора зонд — образец в сканирующей микроволновой микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Чхотуа, М. С. Е.
2014Оптимизация режима питания СВЧ микромодификатора в микротехнологияхГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Слипченко, Н. И.; Щербак, Е. Л.
2012Разрешающая способность резонаторных зондов сканирующей микроволновой микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Гуд, Ю. И.; Ларкин, С. Ю.; Слипченко, Н. И.
2011Алгоритм трехмерной реконструкции электрофизических свойств в микроволновой сканирующей микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Мельник, С. И.; Слипченко, Н. И.
2011Вопросы обработки первичных данных при ближнеполевой микроволновой микроскопии полупроводниковГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Сорока, А. С.
2012Роль зазора между зондом и объектом в сканирующей микроволновой микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Чхотуа, М. С. Е.