Search


Current filters:
Start a new search
Add filters:

Use filters to refine the search results.


Results 1-10 of 16 (Search time: 0.004 seconds).
Item hits:
Issue DateTitleAuthor(s)
2010Высокочувствительный магнитный сквид-микроскоп на основе эффекта стохастического резонансаТурутанов, О. Г.; Гордиенко, Ю. Е.; Шнырков, В. И.
2010Возможности проведения микроволновой сканирующей дефектометрии полупроводниковых материалов и структурМельник, С. И.; Гордиенко, Ю. Е.; Слипченко, Н. И.
2010Алгоритм восстановления распределения по глубине электрофизических свойств полупроводников в микроволновой микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Мельник, С. И.; Слипченко, Н. И.
2012Аналитическое приближение измерительных зависимостей резонаторных зондов для сканирующей микроволновой микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Проказа, А. М.
2012Влияние зазора зонд — образец в сканирующей микроволновой микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Чхотуа, М. С. Е.
2014Закономерности СВЧ модификации полупроводниковых тонкопленочных структурГордиенко, Ю. Е.; Слипченко, Н. И.; Полетаев, Д. А.; Проказа, А. М.; Пятайкина, М. И.
2014Оптимизация режима питания СВЧ микромодификатора в микротехнологияхГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Слипченко, Н. И.; Щербак, Е. Л.
2013Сигналообразование, контрастность и разрешающая способность в ближнеполевой СВЧ микроскопииБондаренко, И. Н.; Гордиенко, Ю. Е.; Полищук, А. В.; Слипченко, Н. И.; Троицкий, С. И.
2012Разрешающая способность резонаторных зондов сканирующей микроволновой микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Гуд, Ю. И.; Ларкин, С. Ю.; Слипченко, Н. И.
2011Алгоритм трехмерной реконструкции электрофизических свойств в микроволновой сканирующей микроскопииГордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Мельник, С. И.; Слипченко, Н. И.