Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/310
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorГордиенко, Ю. Е.-
dc.contributor.authorЛаркин, С. Ю.-
dc.contributor.authorШиян, О. П.-
dc.date.accessioned2016-05-29T15:27:21Z-
dc.date.available2016-05-29T15:27:21Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.citationГордиенко, Ю. Е. Количественный анализ разрешающей способности зондовой сканирующей микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, О. П. Шиян // Прикладная радиоэлектроника : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 2012. – Т. 11, № 3. – С. 426–430.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/310-
dc.description.abstractВ работе приводятся результаты численного исследования зависимости распределения ближнего поля резонаторных зондов в сканирующей микроволновой микроскопии от размера острия зонда и влияния этого параметра на величину сигналов сканирования. Полученные результаты позволяют сделать вывод о том, что пространственная разрешающая способность и контрастность микроскопии с использованием указанных зондов практически линейно зависят от радиуса острия. Это упрощает решение проблемы одновременного повышения контрастности и разрешающей способности сканирующей микроволновой микроскопии. The paper gives results of numerical study of dependence distribution of the near field of resonator probes in scanning microwave microscopy (SMM) on the size of a probe tip and influence of this parameter on the value of scanning signals. The results obtained allow to make a conclusion that the spatial resolution and microscopy contrast with the use of the said probes are almost linearly dependent on the tip radius. This simplities the solution of the problem of simultaneous contrast enhancement and SMM resolution.uk_UA
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectзондовая сканирующая микроволновая микроскопия (ЗСММ)uk_UA
dc.subjectрезонаторный зондuk_UA
dc.subjectпространственная разрешающая способность (ПРС)uk_UA
dc.subjectscanning probe microwave microscopyuk_UA
dc.subjectresonator probeuk_UA
dc.subjectspatial resolutionuk_UA
dc.titleКоличественный анализ разрешающей способности зондовой сканирующей микроволновой микроскопииuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Прикладная радиоэлектроника

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
22.pdf1.02 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.