Публікація: Методы анализа и диагностирования цифровых устройств (аналитический обзор)
Завантаження...
Дата
2014
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавництво
ХНУРЭ
Анотація
Рассматриваются основные направления технологий проектирования, валидации и обеспечения качества (quality assurance) систем на кристаллах и в пакетах кристаллов. Цель – аналитический обзор квантовых методов вычислений, технологий тестирования и диагностирования цифровых систем на кристаллах при их проектировании и верификации, ориентированный на повышение быстродействия программных и аппаратных средств анализа цифровых устройств, а также существенное увеличение выхода годной продукции и уменьшение времени ее выхода на рынок микроэлектроники.
Опис
Ключові слова
технологии проектирования систем на кристаллах, аналитический обзор квантовых методов вычислений, технологии тестирования и диагностирования цифровых систем
Бібліографічний опис
Аббас, Б. А. А. Методы анализа и диагностирования цифровых устройств (аналитический обзор) / Багхдади Аммар Авни Аббас, В. И. Хаханов, Е. И. Литвинова // АСУ и приборы автоматики : всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Харьков : Изд-во ХНУРЭ, 2013. – Вып. 166. – С. 59–75.