Публікація:
Применение IEEE стандартов для тестирования программно-технических комплексов

Завантаження...
Зображення мініатюри

Дата

2006

Назва журналу

ISSN журналу

Назва тома

Видавництво

Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)

Дослідницькі проекти

Організаційні підрозділи

Видання журналу

Анотація

Предлагается подход к использованию IEEE стандартов тестирования для диагностирования сложных иерархических программно-технических комплексов, относящихся к критическим технологиям. Используются различные ad-hoc решения тестирования систем на кристаллах. Предложен алгоритм тестирования программно-технических комплексов на различных уровнях иерархии.

Опис

Ключові слова

System on Chip (SoC), Network on Chip (NoC), IEEE стандарты, ad-hoc технологии, СTL

Бібліографічний опис

Хаханов В. И. Применение IEEE стандартов для тестирования программно-технических комплексов / В. И. Хаханов, В. В. Елисеев // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2006

DOI