Публікація: Встроенное аппаратное моделирование при проектировании SoC
Завантаження...
Дата
2007
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавництво
Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)
Анотація
Предлагаются методы аппаратного моделирования неисправностей и исправного поведения, основанные на методологии HES и PRUS фирмы Aldec, USA. Предлагается структурно-функциональная многозначная аппаратная модель цифрового устройства с шинной организацией линий для многократного повышения быстродействия анализа переходных процессов; представлена аппаратурная реализация троичного метода моделирования исправного поведения HES-MV – Hardware Embedded Simulation based on Multi-Valued alphabet для цифровых проектов вентильного и регистрового уровней описания.
Опис
Ключові слова
моделирование, верификация, цифровые системы на кристаллах, анализ переходных процессов
Бібліографічний опис
Хаханов В. И. Встроенное аппаратное моделирование при проектировании SoC / Хаханов В. И., Хассан Ктейман, Парфенитий А. Н., Хаханова И. В. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2007