Публікація:
Встроенное диагностирование цифровых систем

Завантаження...
Зображення мініатюри

Дата

2009

Назва журналу

ISSN журналу

Назва тома

Видавництво

Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)

Дослідницькі проекти

Організаційні підрозділи

Видання журналу

Анотація

Рассмотрена проблема адаптации технологий тестирования цифровых систем для нового конструктивного поколения – System-in-Package (SiP), которое постепенно осваивает рынок электронных технологий. Пакет кристаллов формирует спектр новых задач сервисного обслуживания SiP- функциональностей в реальном масштабе времени, который существенно отличается от процессов встроенного диагностирования компонентов SoC (System on Chip)

Опис

Ключові слова

дефект, восстановление работоспособности, матрица логических блоков, программируемая логика, SiP, SoC

Бібліографічний опис

Хаханов В. И. Вбудоване діагностування цифрових систем / Хаханов В. И., Чумаченко С. В. Tiecoura Yves, Галаган С. С. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2009

DOI