Алгебро-логический метод ремонта встроенной памяти SOC

Хаханов, В. И.; Хаханова, А. В.; Литвинова, Е. И.

Публікація:
Алгебро-логический метод ремонта встроенной памяти SOC

dc.contributor.author	Хаханов, В. И.
dc.contributor.author	Хаханова, А. В.
dc.contributor.author	Литвинова, Е. И.
dc.date.accessioned	2016-09-06T10:55:08Z
dc.date.available	2016-09-06T10:55:08Z
dc.date.issued	2008
dc.description.abstract	Предложен алгебро-логический метод оптимального восстановления работоспособности памяти, основанный на решении задачи покрытия дефектных ячеек резервными элементами путем использования аппарата булевой алгебры. Метод позволяет автоматически выполнять восстановление работоспособности элементов памяти в процессе функционирования и может иметь аппаратную или программную встроенную реализацию, представляющую собой сервисный модуль исправления дефектов.	uk_UA
dc.identifier.citation	Хаханов В. І. Алгебро-логический метод ремонта встроенной памяти SOC/ Хаханов В. І., Хаханова А. В., Литвинова Е. І. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2008	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/2157
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)	uk_UA
dc.subject	cистема на кристалле	uk_UA
dc.subject	встроенная память	uk_UA
dc.subject	дефектный элемент	uk_UA
dc.subject	восстановление работоспособности	uk_UA
dc.subject	SOC	uk_UA
dc.subject	алгебро-логический метод ремонта	uk_UA
dc.title	Алгебро-логический метод ремонта встроенной памяти SOC	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication