За технічних причин Електронний архів Харківського національного університету радіоелектроніки «ElAr КhNURE» працює тільки на перегляд. Про відновлення роботи у повному обсязі буде своєчасно повідомлено.
 

Публікація:
Застосування мікроконтролерів ST в неруйнівній діагностиці матеріалів

Спрощена сторінка документа
dc.contributor.authorАдаменко, Е. И.
dc.contributor.authorКарнаушенко, В. П.
dc.date.accessioned2019-05-29T12:05:40Z
dc.date.available2019-05-29T12:05:40Z
dc.date.issued2019
dc.description.abstractNon-destructive diagnostics is a combination of methods for measuring and monitoring product quality indicators without changing its inherent properties, dimensions and characteristics. Conventional methods of measurement and control are carried out in order to establish whether the product meets the specified requirements or determine the values of its parameters. Non-destructive diagnostics allows you to receive additional information, exclude unreliable products with hidden defects already in production, select the most reliable samples for working in difficult conditions, determine the causes of latent defects in order to eliminate them in time.uk_UA
dc.identifier.citationАдаменко Е. И. Застосування мікроконтролерів ST в неруйнівній діагностиці матеріалів / Е. И. Адаменко, В. П. Канаушенко // Радіоелектроніка та молодь у ХХІ столітті : зб. тез. доп. ХХІІI Харків. конф. молодих науковців, 16–18 квіт. 2019 р. – Харків, 2019. – С. 5.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/9011
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherХНУРЕuk_UA
dc.subjectМікроконтролериuk_UA
dc.subjectдіагностика матеріалівuk_UA
dc.titleЗастосування мікроконтролерів ST в неруйнівній діагностиці матеріалівuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
Zastosuvannya_mіkrokontrolerіv_ST_v_neruynіvnіy_dіagnostitsі_materіalіv.pdf
Розмір:
272.37 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра мікроелектроніки, електронних приладів та пристроїв (МЕЕПП)