Влияние зазора зонд — образец в сканирующей микроволновой микроскопии

Гордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Чхотуа, М. С. Е.

Публікація:
Влияние зазора зонд — образец в сканирующей микроволновой микроскопии

dc.contributor.author	Гордиенко, Ю. Е.
dc.contributor.author	Ларкин, С. Ю.
dc.contributor.author	Чхотуа, М. С. Е.
dc.date.accessioned	2016-07-13T09:55:13Z
dc.date.available	2016-07-13T09:55:13Z
dc.date.issued	2012
dc.description.abstract	В докладе приводятся полученные путем численных исследований зависимости распределения СВЧ поля вдоль оси системы зонд-зазор-объект для конусного коаксиального резонаторного зонда от величины зазора. А также даны зависимости от зазора фундаментальных сигналов сканирования. В совокупности эти результаты представляют основу для комплексных оценок влияния зазора на функционирование СММ и проектирования алгоритмов реконструкции изображений в широком диапазоне значений электрофизических параметров объектов.	uk_UA
dc.identifier.citation	Гордиенко, Ю. Е. Влияние зазора зонд — образец в сканирующей микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, М. С. Е. Чхотуа // СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии : материалы 22-й Междунар. Крымской конф. (КрыМиКо'2012), 10-14 сент. 2012 г. - Севастополь : Вебер, 2012. - Т. 2. - С. 623-624.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/1495
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Вебер	uk_UA
dc.subject	конусный коаксиальный резонаторный зонд	uk_UA
dc.subject	сканирующая микроволновая микроскопия	uk_UA
dc.subject	сканирующая туннельная микроскопия	uk_UA
dc.subject	телекоммуникационные технологии	uk_UA
dc.title	Влияние зазора зонд — образец в сканирующей микроволновой микроскопии	uk_UA
dc.type	Conference proceedings	uk_UA
dspace.entity.type	Publication