За технічних причин Електронний архів Харківського національного університету радіоелектроніки «ElAr КhNURE» працює тільки на перегляд. Про відновлення роботи у повному обсязі буде своєчасно повідомлено.
 

Публікація:
Метрологическое обеспечение исследований наноструктур со сниженным уровнем погрешности преобразования

Спрощена сторінка документа
dc.contributor.authorСлипченко, Н. И.
dc.contributor.authorФедотов, П. Д.
dc.contributor.authorФедотов, Д. А.
dc.date.accessioned2016-08-02T09:36:21Z
dc.date.available2016-08-02T09:36:21Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractAnalog electronic devices and components performing information signals transformation, as a rule, for computer systems, are urgent when performing metrological investigations into nanostructures. But in this case the parity of a possible precision of the transformation with digital and analog devices is violated. If the digital technique components are renewed every two years perfecting in such a manner the circuit engineering, making it possible to ensure an error nano-level, then the analog devices yield in their development by at least three orders of magnitude. The aim of this work is to substantiate new methods and means for ensuring transformation operations, description of new analog system engineering solutions. Целью данной работы является обоснование новых методов и средств обеспечения операций преобразования, описание новых аналоговых схемотехнических решений.uk_UA
dc.identifier.citationСлипченко, Н. И. Метрологическое обеспечение исследований наноструктур со сниженным уровнем погрешности преобразования / Н. И. Слипченко, Федотов П. Д., Федотов Д. А. // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., 30 сент. – 3 окт. 2011 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2011. – С. 234–237.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/1722
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectнаноэлектроникаuk_UA
dc.subjectметрологическое обеспечениеuk_UA
dc.subjectисследование наноструктурuk_UA
dc.titleМетрологическое обеспечение исследований наноструктур со сниженным уровнем погрешности преобразованияuk_UA
dc.typeConference proceedingsuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
1717.doc
Розмір:
57 KB
Формат:
Microsoft Word
Завантажити
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Международная научная конференция "Функциональная база наноэлектроники" Харьков-Кацивели 2011-2012