За технічних причин Електронний архів Харківського національного університету радіоелектроніки «ElAr КhNURE» працює тільки на перегляд. Про відновлення роботи у повному обсязі буде своєчасно повідомлено.
 

Публікація:
Компьютерная инженерия и техническая диагностика

dc.contributor.authorХаханов, В. И.
dc.contributor.authorЛитвинова, Е. И.
dc.contributor.authorЧумаченко, С. В.
dc.contributor.authorПобеженко, И. А.
dc.contributor.authorNgene, C. E.
dc.date.accessioned2016-08-05T09:44:56Z
dc.date.available2016-08-05T09:44:56Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractПредлагается технология тестирования и верификации системных HDL-моделей, ориентированная на существенное повышение качества проектируемых компонентов цифровых систем на кристаллах (yield) и уменьшение времени разработки (time-to-market) путем использования среды моделирования, тестопригодного анализа логической структуры HDL-программы для квазиоптимального размещения механизма ассерций.uk_UA
dc.identifier.citationКомпьютерная инженерия и техническая диагностика / В. И. Хаханов и др. // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : Изд-во ХНУРЭ, 2009. – Вып. 3. – С. 38-45.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/1781
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectтестопригодное проектированиеuk_UA
dc.subjectассерционная избыточностьuk_UA
dc.subjectсистемные HDL-моделиuk_UA
dc.subjectтестирование и верификацияuk_UA
dc.titleКомпьютерная инженерия и техническая диагностикаuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Завантаження...
Зображення мініатюри
Назва:
RI_2009_3-038-045.pdf
Розмір:
563.89 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: