За технічних причин Електронний архів Харківського національного університету радіоелектроніки «ElAr КhNURE» працює тільки на перегляд. Про відновлення роботи у повному обсязі буде своєчасно повідомлено.
 

Публікація:
Оптимизация режимов тепловой дефектоскопии на основе теплофизического моделирования

dc.contributor.authorСтороженко, В. А.
dc.contributor.authorМалик, С. Б.
dc.contributor.authorМягкий, А. В.
dc.date.accessioned2016-09-20T08:55:12Z
dc.date.available2016-09-20T08:55:12Z
dc.date.issued2014
dc.description.abstractНаведена нова теплофізична модель процесу теплової дефектоскопії. Вона більш повно відображує цей процес і враховує такі фактори як, наприклад, теплопровідність дефекту та обмеження максимальної тем-ператури нагрівання матеріалу. Запропоновано методику оптимізації режиму проведення теплової дефектоскопії, що базується на використанні критерію максимізації відношення сигнал/шум, який враховує не тільки максимізацію корисного сигналу, а і флуктуації випромінювальної здатності об’єкту контролю і нерівномірність нагріву. The new thermophysical model of infrared testing process is presented. This model is more adequate and it allows for such factors as defect thermal conductivity and material reheat temperature limitations. Infrared testing conditions optimization technique that is based on SNR maximization criteria is proposed. Thus it takes into account not only wanted signal maximization, but testing object emittance fluctuations and heating nonuniformity too.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/2919
dc.language.isoruuk_UA
dc.subjectтепловая дефектоскопияuk_UA
dc.subjectтеплофизическое моделированиеuk_UA
dc.titleОптимизация режимов тепловой дефектоскопии на основе теплофизического моделированияuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
Статья 1.doc
Розмір:
1.23 MB
Формат:
Microsoft Word
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: