Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения

Епишин, В. А.; Неофитный, М. В.

Публікація:
Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения

dc.contributor.author	Епишин, В. А.
dc.contributor.author	Неофитный, М. В.
dc.date.accessioned	2018-06-13T12:36:10Z
dc.date.available	2018-06-13T12:36:10Z
dc.date.issued	1982
dc.description.abstract	С целью применения дифракционных структур для измерения характеристик лазерного излучения проведено исследование дифракции этого излучения на редких проволочных решетках, включая случаи непериодического расположения проводников. Теоретическое рассмотрение выполнено в приближении однократного рассеяния падающего излучения дифракционно не взаимодействующими элементами редких решеток. Подробно изучена дифракция Френеля, при которой обнаружено новое свойство — отображение при определенных параметрах решеток диаграммы направленности падающего пучка, что позволяет упростить существующие схемы измерения характеристик излучения и увеличить диапазон измеряемых величин. Показано, что неэквидистантная решетка, обладающая, указанным свойством, вносит меньше искажений в прошедший пучок при дифракции Френеля, чем периодическая. Исследована поляризационная зависимость рассеянного поля, позволяющая применять данные ответвители для определения направления поляризации.	uk_UA
dc.identifier.citation	Епишин В. А. Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения / В. А. Епишин, М. В. Неофитный. // Квантовая электроника. – 1982. – Том 9, №4. – С. 718–725.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/6135
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН	uk_UA
dc.title	Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication