Аналитическое приближение измерительных зависимостей резонаторных зондов для сканирующей микроволновой микроскопии

Гордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Проказа, А. М.

Публікація:
Аналитическое приближение измерительных зависимостей резонаторных зондов для сканирующей микроволновой микроскопии

dc.contributor.author	Гордиенко, Ю. Е.
dc.contributor.author	Ларкин, С. Ю.
dc.contributor.author	Проказа, А. М.
dc.date.accessioned	2016-07-13T09:49:27Z
dc.date.available	2016-07-13T09:49:27Z
dc.date.issued	2012
dc.description.abstract	Исследованы характеристики преобразования резонаторных зондов с коаксиальной измерительной апертурой. Вычислительная практика показывает, что процедура их численных оценок требует особого внимания, что порождает особые требования по обеспечению адекватности моделирования. Таким образом, в работе рассмотрены возможности придания аналитических аппроксимаций данным метрологических зависимостей в теории СММ, полученным прямыми численными методами решения электро- динамических задач в строгой постановке.	uk_UA
dc.identifier.citation	Гордиенко, Ю. Е. Аналитическое приближение измерительных зависимостей резонаторных зондов для сканирующей микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, А. М. Проказа // СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии : материалы 22-й Междунар. Крымской конф. (КрыМиКо'2012), 10-14 сент. 2012 г. - Севастополь : Вебер, 2012. - Т. 2. - С. 625-626.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/1492
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Вебер	uk_UA
dc.subject	СВЧ-техника	uk_UA
dc.subject	телекоммуникационные технологии	uk_UA
dc.subject	резонаторные зонды	uk_UA
dc.subject	сканирующая микроволновая микроскопия	uk_UA
dc.subject	реконструкции изображений	uk_UA
dc.title	Аналитическое приближение измерительных зависимостей резонаторных зондов для сканирующей микроволновой микроскопии	uk_UA
dc.type	Conference proceedings	uk_UA
dspace.entity.type	Publication